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Measuring Techniques for the Semiconductor’s Parameters

Publication date: 1 Gen 2023

BookSource: LEGACY
Authors: Fabrizio Roccaforte, Giuseppe Nicotra, Filippo Giannazzo, Antonio Massimiliano Mio, Salvatore Lombardo, Stefania Maria Serena Privitera, Alessandra Alberti
Publisher
Springer, Cham
Origin
Springer Handbook of Semiconductor Devices
Legacy ID
1e5be1b6d9995050e0fbf351a41cd2ae
Biblio references
Pages: 117-168
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