Vai al contenuto
+39 095 59 68 211
Istituto di Microelettronica e Microsistemi
Facebook-f
Instagram
Linkedin-in
IMM
Chi siamo
Sede Principale CT
Sedi secondarie
Agrate Brianza
Catania Università
Lecce
Messina
Roma
SETTORI DI RICERCA
Micro e nanoelettronica
Materiali e dispositivi funzionali
Fotonica
TECNOLOGIE E INFRASTRUTTURE
Tecniche di Sintesi e Deposizione di Materiali
Caratterizzazioni strutturali
Tecniche di Microscopia
Analisi Chimico/Fisiche
Tecniche di strutturazione e fabbricazione
Testing elettrici
PROGETTI
PUBBLICAZIONI
PEOPLE
LAVORA CON NOI
Menu
IMM
Chi siamo
Sede Principale CT
Sedi secondarie
Agrate Brianza
Catania Università
Lecce
Messina
Roma
SETTORI DI RICERCA
Micro e nanoelettronica
Materiali e dispositivi funzionali
Fotonica
TECNOLOGIE E INFRASTRUTTURE
Tecniche di Sintesi e Deposizione di Materiali
Caratterizzazioni strutturali
Tecniche di Microscopia
Analisi Chimico/Fisiche
Tecniche di strutturazione e fabbricazione
Testing elettrici
PROGETTI
PUBBLICAZIONI
PEOPLE
LAVORA CON NOI
NEWS
PUBBLICAZIONI
← Torna alle pubblicazioni
Tail absorption in the determination of optical constants of silicon rich carbides
Publication date: 15 Gen 2014
Journal
Source: OPENALEX
OpenAlex type: article
Closed Access
Authors:
M. Allegrezza, F. Gaspari, Mariaconcetta Canino, M. Bellettato,
Agostino Desalvo
,
Caterina Summonte
Origin
Thin Solid Films
Volume
556
Pages
105-111
Cited by
12
Apri pubblicazione