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Guglielmo Fortunato

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Non-Quasi-Static modeling of printed OTFTs
Autori: Matteo Rapisarda, Antonio Valletta, Luigi Mariucci, Guglielmo Fortunato
2023-07-07 • Origin: IEEE Journal of the Electron Devices Society • Publisher: IEEE
Non-Quasi-Static Modeling of Printed OTFTs
Autori: Antonio Valletta, Matteo Rapisarda, Mattia Scagliotti, Guglielmo Fortunato, Luigi Mariucci, Andrea Fabbri, P. Branchini, Sabrina Calvi
2023-01-01 • Origin: IEEE Journal of the Electron Devices Society
Electrical passivation of stacking-fault crystalline defects in MOS capacitors on cubic silicon carbide (3C-SiC) by post-deposition annealing
Autori: Patrick Fiorenza, Fabrizio Roccaforte, Filippo Giannazzo, Francesco La Via, Luca Maiolo, Guglielmo Fortunato
2022-12-28 • Origin: Journal of Applied Physics • Publisher: AIP Publishing LLC • Biblio references: Volume: 132 Issue: 24 Pages: 245701
Electrical passivation of stacking-fault crystalline defects in MOS capacitors on cubic silicon carbide (3C-SiC) by post-deposition annealing
Autori: Patrick Fiorenza, Luca Maiolo, Guglielmo Fortunato, Marcin Zieliński, Francesco La Via, Filippo Giannazzo, Fabrizio Roccaforte
2022-12-22 • Origin: Journal of Applied Physics
Reliable evaluation method for interface state density and effective channel mobility in lateral 4H-SiC MOSFETs
Autori: Antonio Valletta, Fabrizio Roccaforte, Antonino La Magna, Guglielmo Fortunato, Patrick Fiorenza
2022-06-09 • Origin: Semiconductor Science and Technology
Reliable evaluation method for interface state density and effective channel mobility in lateral 4H-SiC MOSFETs
Autori: Patrick Fiorenza, Fabrizio Roccaforte, Antonino La Magna, Antonio Valletta, Guglielmo Fortunato
2022-06-09 • Origin: Semiconductor Science and Technology • Publisher: IOP Publishing

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